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LPDDR4探针测试座BGA200测试治具
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产品介绍
2021年,国内存储芯片市场如火如荼,存储芯片面临着缺货和涨价的诸多问题,芯片资源变得更加的宝贵,LPDDR4X作为第四代低功耗双倍数据率同步动态随机存储器,是第四代移动设备的“工作记忆”内存。常用于各类手机,笔记本等电子产品上,能够加快多任务处理速度并优化用户体验。用途非常之广,为了应对市场的芯片测试需求,我司已大批量研发生产出应用于LPDDR4/LPDDR4X的BGA200球芯片的芯片测试socket. BGA200芯片测试座采用合金翻盖式结构,方便客户快速测试,钻孔板采用更加耐磨、耐腐蚀的PEEK陶瓷材料,能够更加准确测试的同时,具有更高的测试寿命。socket只要四颗螺丝便可从PCB测试板上拆下,探针可以跟换,维护简单方便。灵活通用,可以通用移植到任何产品上测试,大大提高了产品的重复利用率,降低了客户的使用成本。同时整个socket为标准设计,大大降低了加工成本,治具价格只有以前的一半。欢迎需要的新老客户咨询洽谈。 型号: BGA200-0.8 产地: 中国大陆 适用场景: 老化\测试 封装方式: BGA 引脚间距: 0.8mm 总尺寸 (含引脚): 10x14x1mm 引脚数: 200个 测试座类型: 翻盖 产品特点: 1、提供免费三个月质保、终身维护服务; 2、socket只要四颗螺丝便可拆下,探针可以跟换,维护简单方便; 3、限位框可以更换; 4、灵活通用,可以通用移植到任何产品上测试,大大提高了产品的重复利用率,降低了客户的使用成本; 5、产品交期大大缩短,约5个工作日交货; 6、socket为标准设计,大大降低了加工成本,治具价格只有以前的一半; 7、体积较小,操作简单方便 8、引脚间距0.8mm 脚位:200PIN 适配芯片尺寸:10*14.5mm